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Calibre - コンピュテーショナル・リソグラフィ
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技術文献
マスク合成 (3)
65nm プロセスのためのAlt.PSM(Alternating 位相シフトマスク)に代わる手法
OASISをベースとしたマスクデータ表現の統一
サブ90nmプロセスのための新しいOPCモデル
全3件の技術文献を見る
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ニュース/プレスリリース
マルチメディア
IC製造ニュース 2009年
2009年10月
GLOBALFOUNDRIES、コンピュテーショナル・ リソグラフィおよびDFM実現のためにメンター・ グラフィックスのCalibreプラットフォームを選択
(2009年10月21日)
2009年09月
メンター・グラフィックスとApplied Materials、 より高精度なマスク製造のためのオープン・データ・ スタンダードOASIS.MASKを適用
(2009年09月16日)
2009年03月
EldoシミュレータをSTマイクロエレクトロニクスが 32nmセル・ライブラリのキャラクタライズに利用
(2009年03月12日)
Selete、EUVフレア補正にメンター・グラフィックスのCalibre nm Platformを採用
(2009年03月02日)
2009年02月
メンター・グラフィックスとFreescale、ナノメータ技術において製造とテストを強化し連携を拡張
(2009年02月02日)
プレスリリース・アーカイブ
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