Mentor Graphics
IC製造
Jump to Navigation and Search
Home
製品情報
IC製造
ニュース
2011年
Calibre - コンピュテーショナル・リソグラフィ
Calibre nmOPC
Calibre OPCverify
Calibre OPCpro
Calibre WORKbench
Calibre OPCsbar
Calibre - マスクプロセス補正
Calibre MPCpro
Calibre nmMPC
Calibre MDP - マスクデータ処理
Calibre FRACTURE
Calibre MDPverify
Calibre MDPview
Calibre MAPI
Calibre MASKOPT
Calibre MDPmerge
製品一覧
技術文献
マスク合成 (3)
65nm プロセスのためのAlt.PSM(Alternating 位相シフトマスク)に代わる手法
OASISをベースとしたマスクデータ表現の統一
サブ90nmプロセスのための新しいOPCモデル
全3件の技術文献を見る
イベント
ニュース/プレスリリース
マルチメディア
ニュース/プレスリリース - 2011年
2011年11月
メンター・グラフィックスと日本電子株式会社(JEOL)、先端ICマスク描画ソリューションの開発へ
(2011年11月25日)
2011年09月
メンター・グラフィックスとニューフレアテクノロジー、高度なマスク描画の問題を解決するためコラボレーションを強化
(2011年09月21日)
2011年03月
メンター・グラフィックスとGLOBALFOUNDRIES、RETとOPCに関する協業関係を28nmノードに拡大
(2011年03月03日)
新ファウンドリのShanghai HuaLi、65/45nmの開発と量産にメンター・グラフィックスのCalibre RETソリューションを採用
(2011年03月02日)
プレスリリース・アーカイブ
2011年
2010年
2009年
2008年
2006年
ソリューション
製品情報
Toggle
サポート
サービス
会社情報