Mentor Graphics
IC設計
Jump to Navigation and Search
Home
製品情報
IC設計
テクニカル・イベント＆セミナー
Olympus-SoCによるデジタルIC設計
Olympus-SoC
Calibre InRoute
カスタムIC設計
Pyxis Schematic
Pyxis Implement
Pyxis Layout
デザインキット
アナログ／ミックスシグナル検証
Questa ADMS
Questa ADMS RF
ADiT
Eldo Classic
Eldo Premier
Eldo RF
Calibreを利用したIC検証とサインオフ
物理検証
Calibreによる回路検証
CalibreのDFMソリューション
Calibre LFD
Calibre YieldAnalyzer
Calibre YieldEnhancer
Calibre CMPAnalyzer
製品一覧
技術文献
アナログ／ミックスシグナル検証 (4)
ADVance MSとCommLib SerDesを 利用したPCI Express 2.5Gbps SerDesの ビヘイビアモデル作成と検証方法
ADMS RFの概要（デジタルAGCループ）
Bluetooth トランシーバの設計: 複雑なRF ミックスシグナルIC に対するトップダウン設計フローの適用
デジタルIC設計 (3)
Calibre InRouteを使った高度な製造クロージャの実現
Olympus-SoCを使った低消費電力物理設計
チップ・アセンブリの課題に取り組む: 物理設計後期のボトルネックを解消
IC検証とサインオフ (5)
Calibre xACT 3Dフィールド・ソルバ 抽出精度と寄生素子の感度解析
Calibre xACT 3D による高度なメモリセル・キャラクタライゼーション
Calibre nmDRCのeqDrc（equation-based DRC）機能に基づく近似リソグラフィ・シミュレーション検証の実例
DFMソリューション (4)
Calibre SmartFillテクノロジを使用した最高水準のU8500スマートフォン向けプラットフォーム
ケーススタディ: LSI Corporation の量産向け90nm 設計におけるクリティカル・エリア解析とクリティカル・フィーチャー解析
Critical Area Analysis（CAA）による信頼性予測手法
物理検証 (1)
IPブロック・インテグレーションの際のDRC疑似エラーを自動管理
全17件の技術文献を見る
ニュース／プレスリリース
イベント
ファウンドリ・パートナー
お客様からの声
テクニカル・イベント＆セミナー
All Events
Calibre nmDRC/eqDRCの概要
オンデマンドWebセミナー
イベント情報を表示
ソリューション
製品情報
Toggle
サポート
サービス
会社情報