Mentor Graphics
IC設計
Jump to Navigation and Search
Home
製品情報
IC設計
テクニカル・イベント＆セミナー
Olympus-SoCによるデジタルIC設計
Olympus-SoC
Calibre InRoute
カスタムIC設計
Pyxis Schematic
Pyxis Implement
Pyxis Layout
デザインキット
アナログ／ミックスシグナル検証
Questa ADMS
Questa ADMS RF
ADiT
Eldo Classic
Eldo Premier
Eldo RF
ICanalyst[英語]
Kronos Analyzer[英語]
Kronos Characterizer[英語]
Calibreを利用したIC検証とサインオフ
物理検証
Calibreによる回路検証
CalibreのDFMソリューション
Calibre LFD
Calibre YieldAnalyzer
Calibre YieldEnhancer
Calibre CMPAnalyzer
製品一覧
IC設計のリソース
コンサルティング・サービス
ファウンドリ・パートナー
お客様からの声
関連ソリューション
3D-IC設計ソリューション
航空宇宙および軍事分野向けソリューション
自動車業界向けソリューション
技術文献
カスタムIC設計 (1)
メンター・グラフィックスの自動配線ツールをアナログ・レイアウトの設計フローに活用
アナログ／ミックスシグナル検証 (6)
複雑なCMOS回路のトランジェント・ノイズ解析: AMSシミュレーションによる高速／高精度実現テクニック
Eldo Premierを使用した高性能階層アナログ・シミュレーション
ADVance MSとCommLib SerDesを 利用したPCI Express 2.5Gbps SerDesの ビヘイビアモデル作成と検証方法
デジタルIC設計 (4)
先端ノードIC設計のための配線技術
Calibre InRouteを使った高度な製造クロージャの実現
Olympus-SoCを使った低消費電力物理設計
IC検証とサインオフ (9)
Calibre PERC導入による信頼性検証改革のベストプラクティス
Calibre PERCを使用した静電気放電(ESD)に関する設計課題の解決策
Calibre RealTime: サインオフ検証をカスタム設計者の手に
DFMソリューション (7)
最新のデバイス・パラメータ・マッチング手法:フルチップ設計のための高性能な電気的ホットスポット検出ソリューション
クリティカル・エリア解析とメモリ冗長化
チップ・レベルでの電気銅めっきとCMPシミュレータ: モデル化の要件とその手法
物理検証 (5)
自動DRC疑似エラー管理 Calibre DRC Automatic WaiversによってIPに含まれる疑似エラーの心配を解消！
IPレベルのDRC疑似エラーを自動管理する画期的な方法
22nm設計の物理検証におけるRDRとその影響
全32件の技術文献を見る
イベント
ニュース／プレスリリース
マルチメディア
ファウンドリ・パートナー
お客様からの声
ブログ
テクニカル・イベント＆セミナー
All Events
Calibre nmDRC/eqDRCの概要
オンデマンドWebセミナー
イベント情報を表示
ソリューション
製品情報
Toggle
サポート
サービス
会社情報