Calibre xL
動作周波数の向上に伴い、配線に発生する誘起効果がチップの動作と性能に大きな影響を与えるようになっています。高周波数RF、ミックスシグナル、ナノメータ世代のカスタム・デジタル設計では、正確な物理検証（シミュレーション）を行い、タイムリーなテープアウトを達成する上で、オンチップの寄生インダクタンス抽出が欠かせなくなっています。
Calibre xLは、周波数依存のループ・インダクタンスやループ抵抗をフルチップで高速かつ正確に抽出し、周波数による帰還経路の変化にも自動的に対応します。Calibre xLによる抽出結果はフィールド・ソルバとの高度な連携が可能で、シリコン実測値に極めて近い精度が得られます。
特長と利点
- フルチップの寄生自己インダクタンス抽出を高速に実行
- 周波数依存のループ・インダクタンスや抵抗を高精度に抽出
- 効率的で実現可能なモデル次数（RLC）の縮小
- 帰還経路の選択およびネットベースの抽出周波数の選択に対応
- Calibre nmLVSおよびCalibre xRCとの完全な統合
- ナノメータ・テクノロジにおける高周波効果を正確に解析
- 扱いやすいネットリストや混在レベルの出力を提供することにより、精度を損なうことなく容易に再シミュレーションが可能
- フィールド・ソルバとの高度な連携が可能で、アナログ、RF、ナノメータ世代のカスタム・デジタル設計におけるシリコン実測値にきわめて近い精度を実現
データシート
- Calibre xL (PDF, 193KB)
ツールボックス
- ソフトウェア評価 : Calibre xL Software Evaluation
- 技術文献 : Chip IR Drop Reduction Through Automated Via Checking and Addition
- 技術文献 : Challenges to Silicon Modeling in the Nanometer Era
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