Calibre xRC
強力な寄生素子抽出ツールのCalibre xRCは、正確な寄生データを抽出することによって包括的で正確なポストレイアウト解析やシミュレーションを可能にします。Calibre xRCでは、配線の寄生パラメータを階層的に抽出できます。
こうして得られた階層型のコンパクトなトランジスタレベルの寄生データは、元のネット・リストにバック・アノテーションして、HSIMなどのフルチップ回路シミュレーション・ツールを使用して高精度シミュレーションが行えます。Calibre xRCとHSIMは、シミュレーション時に階層型ストレージを使用し、回路の階層性と同形性を利用することによって、極めて大規模な回路でも詳細なSPICEレベルの精度を維持しながら画期的な性能を発揮します。
特長と利点
- ASIC、メモリ、アナログ、SoC設計など、幅広い用途で高い精度を維持したまま抜群の性能を発揮
- 1つのルールファイルでCalibre DRC、Calibre nmLVS、Calibre xRCの機能を実行可能
- LVSデータ構造を読み出して寄生情報と本来の回路素子を統合
- すべてのネットに対して高い精度で固有容量と結合容量を計算するモデルベースのエンジン
- Calibre DRCおよびCalibre nmLVS、Calibre Interactive、Calibre View、Calibre RVEとの統合により、強力な検証やクロスプローブ機能を実行
- シリコン実測値ときわめて近い精度の抽出およびシミュレーション結果
- AMS SoC設計における、あらゆる設計スタイルやフローにワンストップで対応する寄生抽出ソリューション
解説
Calibre xRCによる抽出
ASIC、メモリ、アナログ、RF、ミックスシグナルの各フローにおけるCalibre xRCの使用について詳しく説明します。
Calibre xRCによる抽出製品デモ
データシート
- Calibre xRC (PDF, 1.3MB)
- Calibre xRC-CB (PDF, 379KB)
ツールボックス
- 技術文献 : Chip IR Drop Reduction Through Automated Via Checking and Addition
- 技術文献 : An Evolution of Gate and Via Parasitic Resistance Extraction
- ソフトウェア評価 : Calibre xRCソフトウェア評価
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