Calibre xRC

強力な寄生素子抽出ツールのCalibre xRCは、正確な寄生データを抽出することによって包括的で正確なポストレイアウト解析やシミュレーションを可能にします。Calibre xRCでは、配線の寄生パラメータを階層的に抽出できます。

こうして得られた階層型のコンパクトなトランジスタレベルの寄生データは、元のネット・リストにバック・アノテーションして、HSIMなどのフルチップ回路シミュレーション・ツールを使用して高精度シミュレーションが行えます。Calibre xRCとHSIMは、シミュレーション時に階層型ストレージを使用し、回路の階層性と同形性を利用することによって、極めて大規模な回路でも詳細なSPICEレベルの精度を維持しながら画期的な性能を発揮します。

特長と利点

  • ASIC、メモリ、アナログ、SoC設計など、幅広い用途で高い精度を維持したまま抜群の性能を発揮
  • 1つのルールファイルでCalibre DRC、Calibre nmLVS、Calibre xRCの機能を実行可能
  • LVSデータ構造を読み出して寄生情報と本来の回路素子を統合
  • すべてのネットに対して高い精度で固有容量と結合容量を計算するモデルベースのエンジン
  • Calibre DRCおよびCalibre nmLVS、Calibre Interactive、Calibre View、Calibre RVEとの統合により、強力な検証やクロスプローブ機能を実行
  • シリコン実測値ときわめて近い精度の抽出およびシミュレーション結果
  • AMS SoC設計における、あらゆる設計スタイルやフローにワンストップで対応する寄生抽出ソリューション

解説

Calibre xRCによる抽出

ASIC、メモリ、アナログ、RF、ミックスシグナルの各フローにおけるCalibre xRCの使用について詳しく説明します。

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Calibre xRCによる抽出製品デモ

Calibre xRCに関するFAQ

寄生抽出に関する一般的な質問や、Calibre xRCに関する質問については、FAQのページをご覧ください。FAQを表示

成功事例

Atmel

ナノメータ世代になって設計の検証と製造に膨大な時間とコストがかかるようになったため、Atmelはメンター・グラフィックスのCalibre製品を採用することを決めました。詳細を表示

Tower Semiconductor

Tower Semiconductorでは、Calibre xRCの寄生抽出ランセットを検証中に予期しない状態に直面しましたが、メンター・グラフィックスのサポートからのアドバイスにより問題が無事解決し、正確なランセット・データを復元することができました。詳細を表示