MicReD製品スイート

MicReD製品

LEDを含む半導体デバイスやTIM(サーマルインタフェースマテリアル)から完全な電子システムまであらゆるコンポーネントやシステムの熱特性をテスト、測定、評価

ハードウェアとソフトウェアで構成されるMicReD(Microelectronics Research and Development)ファミリを使うと、ICパッケージ、単一LED、LEDアレイ、マルチダイパッケージ(積層ダイなど)、パワーエレクトロニクス、TIM、そして電子システム全体の熱特性を高効率/高精度でテスト、測定、評価できます。MicReDは、ブダペスト工科経済大学(BME)の電子機器学部に在籍していた研究員によって設立された独立企業としてスタートしました。

MicReD製品スイート

T3Ster

T3Ster

ICやLEDとそれらのパッケージの熱特性を測定、評価する過渡熱試験システムです。 詳細

T3Ster TeraLED

T3Ster TeraLED

単体LEDやLEDアレイの熱特性および放射/光度特性を測定するシステムです。 詳細

T3Ster DynTIM Tester

T3Ster DynTIM Tester

TIM(サーマルインタフェースマテリアル)の熱特性を評価するテスト環境です。 詳細

Power Tester 1500A

Power Tester 1500A

IGBT(Insulated-Gate Bipolar Transistors)のパワーサイクル試験システムです。 詳細

Power Tester 600A

Power Tester 600A

パワー半導体デバイスの故障原因を自動的にテスト、診断する装置です。 詳細

 

MicReDハードウェアファミリ

MicReD製品は、半導体、家電、運輸、LEDといった業界に採用が進んでおり、BoschやAutomotive Lightingをはじめ、IBM、インフィニオン、LG、Philips、ST Microelectronics、Siemens、Samsungなど世界的な大手半導体メーカーおよび専門大学や研究機関などで使用されています。

高い評価を受けたMicReDのハードウェアはデンソー、トヨタ自動車、Lumileds、Osram、KOPTI(韓国)、ITRI(台湾)など世界的に有名な企業や研究センターなどの光学分野でも広く使用されています。

  • ICパッケージ、単体LED、LEDアレイおよびシステムの過渡熱試験/測定/特性評価を迅速かつ高精度に実施
  • デュアルインタフェース過渡熱試験方法(JEDEC JESD51-14)と最新のLEDの熱試験標準(JEDEC JESD51-51, 51-52など)を完全にサポート
  • FloTHERMを用いた高精度熱シミュレーションのためのコンパクトサーマルモデル(CTM)の作成
  • ICパッケージとLEDの非破壊故障検出方法として、ストレスをかけた後の信頼性解析などにも利用
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