Tessent製品スイート

Tessentは、フルスキャンATPG(Automatic Test Pattern Generator)、組み込みパターン圧縮、BIST(Built-In Self Test)、故障診断(Diagnosis)、組み込みメモリ専用のテストとリペア、バウンダリスキャン、さらにボードレベルやシステムレベルのテストといった多数のテクノロジの長所を融合しています。

Tessent製品スイートは、シリコンテストおよび歩留まり解析用の包括的なソリューションを提供し、今日のSoCにおける製造テストデバッグ歩留まりの立ち上がりに対応します。Tessentは、各分野のクラス最高ソリューションを強力なテストフローに統合し、チップ全体のテストカバレッジを確実に達成します。

ロジックテスト

メンター・グラフィックスは、業界で最も強力なロジックテストソリューションスイートを提供しています。これらのソリューションは20年以上に渡り、圧縮およびベクターレスアプローチの両方を用いた高品質のテストで数千件のテープアウトを成功させてきました。

ロジックテスト

メモリテスト

Tessentメモリテストソリューションには、新しいプロセスノードやメモリ設計の品質要件を満たすための包括的なテスト/診断機能や、広範な修復解析/自己修復機能が含まれています。

メモリテスト

ミックスシグナルテスト

Tessentミックスシグナルテストソリューションは、特定のベンダやATE(自動テスト装置)に依存することなく、今日のSoC設計で多用されているSerDesインタフェースやPLLのテストに対応します。

ミックスシグナルテスト

シリコン歩留まり改善

シリコン歩留まり改善に役立つTessent製品は、クリティカルなシリコン検証段階と歩留まり早期立ち上げ段階の生産性を向上させ、テストブリングアップ、シリコンキャラクタライゼーション、診断ドリブン型歩留まり解析、不良解析のためのソリューションを提供します。

シリコン歩留まり改善

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