Mentor Forum 2019 - 自動運転システム時代の高品質なLSIテスト

イベント情報

開催日 : 2019/8/2(金)
開催時間 : 14:00~15:30(受付開始13:45)
会場 : パナソニック セミコンダクターソリューションズ株式会社
設計技術研修室A
案内図

<ご注意>定員になり次第申込みを締切らせていただきます。 また弊社が競合、異業種と判断した企業およびその代理店の方、法人格を持たない個人の方、対象外と判断した方については、フォーラムへの登録、参加、フォーラム会場への立入りをお断りする場合がございます。あらかじめご了承ください。

お申込み

対象:

  • In-System TestをLSIへ実装検討している品種開発担当の方
  • IPの回路設計・評価・デバッグを担当している方
  • LSIのDFT、テスト、不良解析を担当している方
  • DFTやテスト時の、様々な制約や課題を抱えている方
  • 最新のDFT、高品質テスト、In-System Test、歩留まり解析などの動向に興味のある方

受講料:

  • 無料

主催:

申込み方法:

  • 「お申込み」のオレンジボタンをクリックして、必要事項をご記入ください。
  • お申込み終了後、ご記入いただいたEmailアドレスまで受講票を送信します。フォーラム開催当日は、プリントアウトした受講票とお名刺2枚をお持ちください。

ご注意:

  • 先着にて定員になり次第、お申込みを締め切らせていただきます。
  • 弊社が競合、異業種と判断した企業およびその代理店の方、法人格を持たない個人の方、対象外と判断した方については、フォーラムへの登録、参加、フォーラム会場への立入りをお断りする場合がございます。あらかじめご了承ください。
  • ご所属企業の連絡先でご登録ください。
    (フリーメールアドレス、携帯電話アドレスでの登録は受け付けておりません)
 

フォーラム内容に関するお問い合わせ先:

メンター・グラフィックス・ジャパン株式会社
コーポレートマーケティング部
Email: mgj_seminar@mentor.com

概要:

LSI設計規模の増大が依然として続くなか、短期間で手戻りの少ない効率的なDFT、およびチップ評価~出荷、そして歩留まり解析/不良解析が求められています。

特に、自動運転システムをはじめとする高信頼を要求するLSIにおいては、以下の要件が強く求められています。

  • 従来以上に高品質な出荷テストの要求
  • In-System Test機能を実装し、出荷後に発現する故障検出の要求
  • 万一市場不良の発生時には迅速な不良解析の要求

これらの難しい要求を満たすための手がかりとして、Tessentの活用をご紹介いたします。

プログラム:

13:45 - 受付開始
14:00 - 14:40 最近のDFT・テスト動向とTessent製品のご紹介
14:40 - 15:20 テスト品質向上と自己診断 Automotive-grade ATPGとSelf Test (BIST)
15:20 - 15:30 Q & A

※講演タイトルをクリックすると、概要が表示されます。
※プログラムの内容は一部変更になる場合もございますのでご了承ください。