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シリコンテストおよび歩留まり解析(DFT)
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シリコンテストおよび歩留まり解析 (3)
診断ドリブン歩留まり解析で 原因をより早期に特定
EDT: Embedded Deterministic Test - 高品質で低コストな製造テストのためのDFT技術 -
高速チップのためのスキャンベース - At-Speedテスト手法 -
ロジックテスト (6)
故障モデルおよびテストの業界動向
スイッチング動作を考慮したTessentの低消費電力テスト - 深刻化する、ICテスト時の電力事情を改善する
ロジックBISTの適用範囲と使用方法
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