Tessent FastScan
Tessent FastScanは、高カバレッジでコンパクトなテストセットを簡単に生成します。ほぼすべての種類のデザインに適用できる業界で最も汎用性の高いATPGソリューションです。テスト品質を高めるには、包括的な実動作速度テストが欠かせません。Tessent FastScanのat-speedテストには、遷移、n回検出遷移、タイミング解析、クリティカルパスなどが含まれます。
特長と利点
- 縮退、IDDQ、遷移、パス遅延、ブリッジなど、幅広い故障モデルをサポート
- オンチップPLLをサポートし、高精度なat-speedテストが可能
- フル・スキャンおよび構造化したパーシャル・スキャンのデザインに対応した最高性能のATPG
- 分散型ATPGにより、カバレッジやパターン数はそのままで実行時間を短縮
- フォルスおよびマルチサイクルをサポートし、不定値Xの影響を最小限に抑えて高カバレッジを実現
- 包括的な設計ルールチェックにより、テスタビリティの問題を早期に発見
- GUIによるシミュレーション不一致の自動デバッグ機能により、テストのバリデーション時間を短縮
Tessent FastScan MacroTest
- 小規模な組み込みメモリやコアに対するテストパターンをチップレベルでのスキャン・テストパターンに変換
関連製品
Tessent SoCScan
Tessent FastScanとTessent SoCScanを組み合わせると、メンター・グラフィックスの階層型テスト・インテグレーションおよびテスト生成フローを最大限に利用することができます。Tessent SoCScanはシェアード・アイソレーション技術やCapture-by-Domain技術を利用して、独立したコアレベルのATPGとチップレベルのパターン再利用を実現します。 Tessent SoCScan
データシート
- Tessent FastScan (PDF, 990KB)
ツールボックス
- オンデマンドWebセミナー : Using FastScan: Scan Test Technology
- オンデマンドWebセミナー : Design-for-Test Techniques for Mass Production Test
- 技術文献: At-Speed and Advanced Fault Models for Achieving High Quality Test
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