主な機能として、新しいプロセス・ノードやメモリ設計における品質の要求を満たすための包括的なテストおよび診断機能や、幅広いリペア解析およびセルフリペア機能などが挙げられます。また、Tessentメモリテスト・ソリューションには、高度な設計自動化機能も用意されており、必要な組み込みテストおよびリペア機能をすべて短時間で効率的にデザインに組み込むことができます。メモリの数が増え続けている現在、これは非常に重要です。

Tessentメモリテスト・ソリューションは、あらゆる規模や複雑さのICもサポートすることから、ICエンジニアの開発負担を軽減し、Time-to-Marketの短縮に貢献します。