Tessent PLLTest

Tessent PLLTestは、メンター・グラフィックスの特許技術であるULTRA(Unlimited Time-Resolution Analysis)テクノロジを採用しています。4kゲートのULTRAモジュール1つでPLLをいくつでもテストでき、1つのTAPコントローラ(またはIEEE 1500 WTAP)で任意の数のULTRAモジュールに接続できます。

製品デモ

デザインに含まれるオンチップPLLをテストする方法をご存じですか。この製品デモでは、PLLの性能をはじめ、IC全般のタイミングをオンチップで測定できるメンター・グラフィックスのBISTソリューションの機能と特長について紹介します。このソリューションは極めて高速にテストを実行でき、設計とテストの大部分を自動化できるほか、独自の診断測定機能も備えています。

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Tessent PLLTest製品デモ

特長と利点

  • ピコ秒単位の精度によるジッタの測定: ヒストグラムまたはRMS、タイミング・ジッタ(ループ帯域幅に依存)、周期ジッタ(VCOノイズに依存)
  • ピコ秒単位の精度による位相ノイズおよびデューティ・サイクルの測定: 任意の同期出力周波数で任意の数の出力
  • PLLロック時間の測定: 1クロック・サイクル精度で任意の周波数偏差
  • 設計とテストの自動化: RTL挿入とテストベンチ生成、キャラクタライゼーション、量産テスト、再現性解析

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