2005年06月09日

メンター・グラフィックス・コーポレーション（本社米国オレゴン州、日本法人メンター・グラフィックス・ジャパン株式会社：本社東京都品川区、コーポレー ト･ヴァイス・プレジデント：パトリック・ウィリアムス、以下メンター）は、同社のスキャン・パタン圧縮ツールTestKompressがTaiwan Semiconductor Manufacturing Company(TSMC)のReference Flow 6.0に加えられたことを発表しました。TestKompressは、ナノメータ設計での製造テスト品質の向上に対し増大するテストデータ量、テストコス ト削減に有効な手段です。Reference Flow 6.0には、メンターのDFTツール群である、FastScan、MBISTArchitect、BSDArchitectも含まれています。

「Reference Flow 6.0は、ナノメータに特有な課題に対応する新しいDFT(design-for-test)技術を加えました。メンターのTestKompressはテ ストデータ量、テスト時間およびコストを削減しながらテスト品質を向上します」と、TSMCのsenior director of design service marketingのEd Wan氏は述べています。

メンターのTestKompressは、EDT(embedded deterministic test)機能をもち、製造テスト時間およびテストデータ量を最大100分の1まで削減し、複雑なデバイスでのテスト・カバレッジやテスト品質を向上させ ます。この圧縮によりメーカーはテスト時間の増加を防ぎ、大規模な製品のテストを実行でき、その結果、低いテストコストを維持できます。また、 TestKompressには、機能ロジックを追加したり、テスト構造から強いられている厳しい設計要求に固執する必要がない強力な不定値"X"対応機能 があります。さらに、TestKompressはあらゆるスキャン･ベースのメソドロジに対応しており、従来のATPGに慣れているエンジニアにもわかり やすい使用法を備えております。

TestKompressおよびFastScanは、より微細なプロセス技術で遅延：ディレイに関連した欠陥検出をするための最新のat-speedテス ト機能を備えています。TSMCはまた、Reference Flow 6.0で完全なDFTツールを提供するためにメンターのMBISTArchitectとBSDArchitectも加えています。 MBISArchitectは、1GHzまでの組込みメモリのat-speedテストを提供し、BSDArchitectは、in-circuitテスト を可能にするIEEE 1149.1バウンダリ・スキャンの挿入に使用されます。

メンターのDesign Verification and Test divisionのvice president and general managerであるRobert Humは次のように述べています。「TSMCは、複雑なナノメータ・デバイスの大量生産に固有な課題に挑戦している業界のリーダーです。コスト効率のよい ナノメータ製造テストや製造テスト品質の向上に特有の問題に対応するために、TSMCがReference Flow 6.0にメンターのDFTツールを加えたことを喜ばしく思います」。

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●	テストソリューションについて
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