2006年11月08日

メンター・グラフィックス・コーポレーション（本社米国オレゴン州、日本法人メンター・グラフィックス・ジャパン株式会社：本社東京都品川区、コー ポレート・ヴァイス・プレジデント：パトリック・ウィリアムス、以下メンター）は、スキャン・テストパターン圧縮技術を市場にもたらした画期的なツール TestKompressの最新版、TestKompress 2007 のリリースを発表しました。TestKompress 2007はATPG（Automatic Test Program Generation）の最も重要な側面である生産性、パフォーマンス、テスト品質を大幅に強化した製品です。

テストにおいて最も時間のかかる問題の一つに、スキャン・テストを阻害しカバレッジ低下につながる回路のデバッグの問題があります。 TestKompress 2007では、複雑なDFT（Design for Test）関連の問題に対応するための新しいグラフィカル・ユーザー・インタフェース、DFTVisualizerをリリースいたします。 DFTVisualizerには、階層対応の設計／回路図ビューワ、ならびに設計データを素早く追跡してテスト関連問題をピンポイントで突き止めることの できる波形ビューワ等、強力なグラフィカル・ユーティリティが含まれています。使いやすく、生産性の高いデバッグ環境内においてこれらのユーティリティは ATPGエンジンならびにDRC（Design Rule Check）に統合されています。

「故障検出率の向上は弊社の品質目標を達成する上で重要な指標です。」AvagoのDFT Engineering Manager、Jason Brown氏はこのように語っています。「DFTVisualizerのグラフィカル・デバッグ機能により、故障検出率の向上を阻害するDFT問題を迅速に発見でき、タイトな開発スケジュールを遵守することができます。」

特許出願中のプロセス分散技術を用いたATPG Acceleratorは、ますます拡大を続ける回路規模と複雑性に対応可能なスケーラブルなパフォーマンスを提供します。このATPG分散技術のユニー クな特徴は、スケーラブルかつ反復可能でプロセスの分散状況に関わらず同一の結果を提供できる点で、プロセス・グリッド・リソースの変動に左右されない柔 軟な性能を有します。ATPG Acceleratorはフォルト・トレランス機能を内蔵しており、ネットワーク関連の問題が発生してもテスト生成プロセスに影響を与えないようになって います。ATPG Acceleratorの分散処理はPlatform ComputingのLSFや、Sunのバッチ・ネットワーク・スケジューリング製品Grid Engineとの完全な互換性を備えています。特別なオプションやライセンスは必要ないため、ATPG AcceleratorはTestKompressあるいはFastScan?のユーザー全てが利用できます。

90nm以下のプロセスを使った設計では、テスト品質を維持するためにより包括的な故障モデルが求められています。より多くの企業がDPM（Defect per Million）レベルの低減を目指す中、TestKompress 2007は物理設計対応のブリッジ故障モデルのサポートを追加しました。これは、設計の論理的側面を超えて故障カバレッジを拡大し、設計の物理的特性も考 慮した機能です。これらのモデルはCalibre YieldAnalyzer 製品から出力されるCalibreR DFMデータベースの内容から直接情報を取得し、より高精度なテスト結果を生成することにより故障検出率を改善します。

「メンター・グラフィックスのTestKompressならびにFastScan製品をお使い頂いているお客様により優れた生産性、パフォーマンス、テス ト品質を提供するため開発に大きな力を注ぎました。」メンター・グラフィックスのDesign Verification and Test Division、Vice President and General ManagerであるRobert Humはこのように語っています。「基本的なATPG機能の継続した強化に注力するとともに、テストパターン圧縮で業界をリードする TestKompress 2007はスキャンテストの分野で圧倒的に支持されるソリューションであり続けるでしょう。」
DFTVisualizer、ATPG Accelerator、物理設計を考慮した故障モデリングは2007年1月1日リリース予定のTestKompress 2007、ならびに業界をリードするATPGツールFastScan 2007にて提供されます。

TestKompressについて
ATPG手法をベースとしたTestKompressは特許を取得したEDT（Embedded Deterministic Test）技術を使用し、テスト・データの大きさを最大1/100まで圧縮する劇的な圧縮性能を提供するとともに、テスト品質とコストの改善を可能にしま す。今日の複雑なIC設計に伴うテスト・データのボリュームを大幅に削減しながら、設計に与える影響は最小限で済みます。詳細についてはwww.mentor.com/dftを参照してください。

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●	テストソリューション について
		http://www.mentorg.co.jp/products/silicon-yield/index.html

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メンター・グラフィックス・ジャパン株式会社　
コーポレート・マーケティング部
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