2006年11月15日

メンター・グラフィックス・コーポレーション（本社米国オレゴン州、日本法人メンター・グラフィックス・ジャパン株式会社：本社東京都品川区、コー ポレート・ヴァイス・プレジデント：パトリック・ウィリアムス、以下メンター・グラフィックス）は、同社の故障解析ツール：YieldAssistにおい て、ウエハ・テストで発見された欠陥を大量に診断するための自動化されたサーバー・ベースモデルをサポートすることを発表しました。歩留まりを阻害する欠 陥を迅速かつ正確に識別し、特定する機能を持った故障解析ツール：YieldAssistは、製造欠陥の解析に新時代を切り開き、歩留まり習熟の新たなソ リューションです。YieldAssistは製造スキャン・テスト（テストパターン、フェイルログ）から欠陥情報を直接読み取り、高度な診断機能を通じて 欠陥の原因を突き止めます。

今回新たに加わった機能により、YieldAssistは複数のディレクトリでAutomatic Test Equipment (ATE) のフェイルログを監視し診断処理の実行およびリソースを管理する完全に自動化された診断ジョブ・サーバーとなります。YieldAssistサーバーは、 診断を実行する各マシンにジョブを自動的に振り分け、負荷のバランスを調整して高いスループットを実現します。診断結果はデータベースに収集され、後の解 析やレポート作成に利用されます。システムはフォルト・トレラント性を備えており、診断用マシンの再起動や利用不可能となったマシンの除外を行う他、 キューの管理を行うことにより停止や再起動を容易にしています。更に、大量の診断処理に対応するための機構により、診断対象のチップが1個であっても 10,000個であっても精度は全く失われることはありません。

「今回のYieldAssist製品の強化により、大量の製造テスト欠陥に対して効率的に診断結果を得られるようになりました。YieldAssist は、純粋な自動スキャン診断ソリューションから、強力な歩留まり習熟ツールへと変革を遂げつつあります。」メンター・グラフィックスのDesign- for-Test Product group、Director of MarketingのGreg Aldrichはこのように述べています。

YieldAssistについて
YieldAssistは、製造テストで不合格となったデバイスを迅速に解析します。YieldAssistはFastScan ATPG ツールおよびTestKompressテストパターン圧縮ツールから生成された製造用スキャンテストパターンを活用して、歩留まりを阻害する欠陥領域を高 速かつ正確に発見し、特定します。YieldAssistは製造プロセスにおいても、欠陥解析のためのラボでも使用でき、高精度な結果と高いスループット を両立するよう最適化されています。

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●	テストソリューション について
		http://www.mentorg.co.jp/products/silicon-yield/index.html

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メンター・グラフィックス・ジャパン株式会社　
コーポレート・マーケティング部
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