2007年05月10日

メンター・グラフィックス・コーポレーション（本社米国オレゴン州、以下メンター・グラフィックス）は、Semiconductor Technology Academic Research Center (STARC)と共同で、TestKompress がStatistical Delay Quality Model (SDQM) を用いて微小遅延故障を検証する先駆的な商用ATPGツールとなったことを発表しました。日本の大手半導体企業11社により設立された研究開発コンソーシ アムである株式会社半導体理工学研究センター（STARC）は、90nm以降のテクノロジ・ノードでより大きな問題となる微小遅延故障をスキャンベースの ATPG（Automatic Test Pattern Generation）で検出することを可能にするためSDQMを開発しました。

今回、STARCとメンター・グラフィックスの共同開発により、DFT（Design for Test）エンジニアはこのSDQM技術を、高品質なテストとテストパターンの圧縮で業界をリードするATPGツールと組み合わせて適用することが可能に なります。これらの機能を組み合わせることにより、ユーザーは製造テスト費用を低く抑えながらテストの有効性を高めることが可能になります。

「会員企業に実証済みの技術を提供し続けるため、STARCはEDAツール・プロバイダと提携して我々の開発した技術の統合に積極的に取り組んでいます。 このような緊密な協力関係を継続し、メンター・グラフィックスのDFTツールをSTARCが将来開発するDFT技術の主要な提供手段としていきたいと思い ます。」 STARC 執行役員開発第2部長の岡村 芳雄氏はこのように語っています。

TestKompressは最小遅延「スラック」を持つ経路をテスト対象とすることによりSDQMを使った微小遅延故障を行います。通常これらの経路は、 回路中のより長い信号経路です。TestKompressツールはデザインのSDF（Standard Delay Format）ファイルにアクセスすることで、最も影響の大きいSDQMパスを判定します。テスト対象とされた経路と最も長い経路を比較した統計的指標を 示すレポートによりこれらのテストパターン セットの有効性を調べることができます。

「STARCがDFTのEDAパートナーとしてメンター・グラフィックスを選定されたことを嬉しく思います。SDQM技術とTestKompressの高 いパターン圧縮レベルを組み合わせることにより、お客様のテスト品質目標の達成に貢献できると思っております。」メンター・グラフィックスのDesign Verification and Test Division、Vice President and General ManagerであるRobert Humはこのように語っています。

STARCについて
株式会社半導体理工学研究センター（STARC）は、日本の大手半導体企業11社によって1995年12月に設立された研究開発コンソーシアムです。 STARCの使命は最先端のSoC設計技術を開発し日本の半導体産業の発展に貢献することです。

 

 

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●	テストソリューションについて
		http://www.mentorg.co.jp/products/silicon-yield/index.html

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メンター・グラフィックス・ジャパン株式会社　
コーポレート・マーケティング部
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