65/45nm ICの製造テスト要件に対応したTestKompress Xpress技術を発表
2007年10月02日
メンター・グラフィックス・コーポレーション(本社米国オレゴン州、以下メンター・グラフィックス)は 、 業界内の圧縮スキャン・テストへの需要 拡大に対応するための新技術を発表しました。この新技術は、ATPG (Automatic Test Pattern Generation)ツールであるTestKompress に内蔵されます。100倍以上の圧縮レベルを提供するメンター・グラフィックスの新しいXpress技術により、ICメーカーはテストコストの増大を 負うことなく先端プロセス・ノードに対する最も厳しい品質目標を達成 できます。
「先端プロセスに基づくデバイスに対して高品質なテストを実施するということは、テストパターン・サイズの爆発的な増加 を意味します。TestKompress Xpressが提供する高水準の圧縮技術は、優れた品質目標を達成するためのテスト・カバレッジの維持を、適切なテストコスト で実現するために重要と 認識しています」と、株式会社ルネサス テクノロジの設計技術統括部 システム設計技術開発部 部長 多田 修氏は述べています。近年の製造プロセスの進化 がICのゲート数を 著しく増大し、 結果としてテストパターンのサイズも拡大する一方です。さらに、 ジオメトリの微細化により、新たな欠陥 要因も生まれています。製品 品質を維持するために、わずかな欠陥も識別し DPM(Defects per Million)レベルを低減する、 "アットスピード"や"微小遅延"テストなど、メーカーが適用しなければならないスキャン・テストの種類は拡大しています。新しい種類のテストを追加する ことによりテストパターンのサイズは何倍にも拡大し、この傾向はプロセス・ノードが進むに つれてさらに顕著となることが予想されています。 このことから、テストパターン圧縮は高品質な製造テストを実現する上で重要な要件となりました。実際、International Technology Roadmap for Semiconductors (ITRS)では、2008年までに200倍のテストデータ・ボリューム圧縮が必要となる と予測しており、この要件は今後5年間で急激に拡大を続けると 見込んでいます。 メンター・グラフィックスのTestKompressはオンチップ・テスト圧縮を提供する業界初のツールとして2001年に発表されて以来、今回発表され た新しいXpressパターン圧縮技術 に挙げられるイノベーションを通じて、これらの将来的な圧縮目標を達成するべく開発されています。
TestKompress の最新バージョンでは、いわゆる"Xステート"をより効率的に扱う手法を提供することで、達成可能な圧縮レベルの引き上げを図っています。Xとは、製造テ スト時に発生することのある未知のステートです。テスト時にX が正しく処理 されない場合、 テスト・カバレッジの低下につながったり 、 デバイスを完全にテストする ために必要なテストパターンのサイズが増大したりする傾向にあります。特許取得済みの新しいXpress圧縮技術は、洗練されたエンベデッド・テストデー タ・セレクション回路と高度なソフトウェア制御アルゴリズムを組み合わせること で、Xをより効率的に処理する手法を提供 します。Xpress技術によって Xの影響を 効率的に抑えることができるため、テストパターンをより小さく、高度に圧縮することが可能になります。より圧縮されたテストパターンはテスト時間の短縮、 製造テスト・スループットの向上、製造コストの削減につながり、また既存のテスト装置の寿命延長にもなります。Xpress技術の適用 は機能設計の変更 を必要 とせず、TestKompress ユーザーは技術適用による影響を 全く意識せずに利用できるため、習得 期間も必要ありません。
「2001年に 最初の圧縮製品を市場に出して以来、圧縮に対する業界からの需要はとどまるところを知りません。実際、 メンター・グラフィックスのお客様 によるエンベデッド圧縮の採用は急速に拡大しつづけており、圧縮に関するITRSのロードマップは業界のニーズを正確に反映したものであると確信していま す。」メンター・グラフィックスのDesign Verification and Test Division、Vice President and General ManagerであるRobert Humはこのように語っています。「メンター・グラフィックスは現在のニーズだけでなく、ディープサブミクロンICテストの将来的要件にも対応していくた め、圧縮技術をさらに進化させていくつもりです。」
提供時期
TestKompress Xpressは現在ベータ評価版が提供されており、2007年11月に予定されているTestKompress第四四半期リリースにて正式出荷される予定です。
| ● | テストソリューションについて | |
| http://www.mentorg.co.jp/products/silicon-yield/index.html | ||
本件に関するお問合わせ
メンター・グラフィックス・ジャパン株式会社
コーポレート・マーケティング部
E-mail: mktg_mgj@mentor.com
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