2009年04月30日

メンター・グラフィックス・コーポレーション（本社: 米国オレゴン州、以下メンター・グラフィックス）は、ATPG（自動テストパターン生成）ツールであるTestKompress®が、Test & Measurement World誌のTest of Time賞を受賞したことを発表しました。Test of Time賞は5年以上継続して最先端のパフォーマンスを提供した製品を表彰するもので、メンター・グラフィックスはこの賞を受賞した初のEDAベンダとな ります。

「2008年12月、Test & Measurement World誌の編集部は、多数のノミネート製品からテスト開発ソフトウェアからオシロスコープまで、6つのTest of Time賞最終候補を選出しました。本誌の読者が受賞製品としてTestKompressを選んだことは、高品質なチップを市場に投入する上で、スキャン テストとテストベクタ圧縮が最重要であることを表しています。メンター・グラフィックスのTestKompressチームの開発とサポートに対する努力を 称えたいと思います。」Test & Measurement World誌の編集長、Rick Nelson氏はこのように語っています。

TestKompress は、スキャンテスト・データのサイズとテスト時間を大幅に削減する業界初のツールとして2001年に発表されて以来、業界をリードする圧縮ATPGツール となりました。継続した技術革新と開発により、初期の圧縮率である10倍から、今日では100倍を超える圧縮率が達成されています。 TestKompressは継続して圧縮率の向上を続け、International Technology Roadmap for Semiconductorsが求める今後5年間で1000倍を超える圧縮率の達成に取り組んでいます。

「テスト・コミュニ ティの皆様に評価されたことを光栄に思います。Test of Time賞の受賞は、TestKompressを最初に発表した2002年にTest & Measurement Worldから受賞したBest in Test賞に続く素晴らしい出来事です。しかしそれよりも嬉しいことは、お客様が過去8年間TestKompressを使用して、シリコンテストにおける クリティカルな課題を解決し成功されてきたことです。」メンター・グラフィックス、Silicon Test Solutions Group、Marketing Director、Greg Aldrichはこのように語っています。

2009年度の受賞者のリストは、Test & Measurement WorldのWebサイトから閲覧できます。
http://www.tmworld.com/article/CA6646235.html?industryid=47186

メンター･グラフィックスについて
メンター・グラフィックスは、EDA（Electronic Design Automation）のテクノロジ・リーダーとして、高性能な電子機器を短期間でよりコスト効率よく開発するためのハードウェアおよびソフトウェアのソ リューションを提供しています。ますます複雑化する基板およびチップ設計の世界でエンジニアが直面する様々な設計上の課題を克服するための革新的な製品お よびソリューションを提供します。メンター・グラフィックスは業界で最も幅広いクラス最高の製品ポートフォリオを有し、EDAベンダとして唯一組込みソフ トウェア・ソリューションを持っている企業です。メンター・グラフィックスについての詳しい情報はhttp://www.mentorg.co.jpをご覧ください。

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• http://www.mentorg.co.jp/products/silicon-yield/index.html

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