2009年11月

• メンター・グラフィックスの新製品Tessent YieldInsight、 テスト故障データの統計的解析によりIC歩留まりを改善 (2009年11月04日)
• メンター・グラフィックス、シリコンテストと歩留まり解析を 統合する戦略を発表 (2009年11月04日)

2009年08月

• メンター・グラフィックス、LogicVisionの買収を完了し、BIST、ATPG、テストパターン圧縮技術を統合 (2009年08月20日)

2009年06月

• UMC、65nmおよび40nmリファレンス・フローでメンター・グラフィックスの包括的なシリコン・テスト製品群を認証 (2009年06月25日)

2009年04月

• メンター・グラフィックスのTestKompress、 Test & Measurement World誌のTest of Time賞を受賞 (2009年04月30日)

2009年03月

• メンター・グラフィックスとNXPのシリコン・テストにおけるパートナーシップが大きなマイルストーンを達成 (2009年03月30日)

2009年01月

• メンター・グラフィックスのDFTツールを STマイクロエレクトロニクスが先端ICテスト・ ソリューション向けに採用 (2009年01月30日)