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シリコンテストおよび歩留り解析
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シリコンテストおよび歩留まり解析 (3)
診断ドリブン歩留まり解析で 原因をより早期に特定
EDT: Embedded Deterministic Test - 高品質で低コストな製造テストのためのDFT技術 -
高速チップのためのスキャンベース - At-Speedテスト手法 -
ロジックテスト (7)
Tessent TestKompressを使用したARM Cortex-A15プロセッサの高品質テスト
故障モデルおよびテストの業界動向
スイッチング動作を考慮したTessentの低消費電力テスト - 深刻化する、ICテスト時の電力事情を改善する
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ニュース/プレスリリース
リソース
ニュース/プレスリリース - 2010年
2010年11月
メンター・グラフィックスとARM、共同でメモリテストおよび修復機能を開発
(2010年11月04日)
2010年08月
株式会社リコー、メンター・グラフィックスのTessent TestKompressを使用して、少ピン数でのフル・テストカバレッジを達成
(2010年08月24日)
2010年06月
メンター・グラフィックス、ESL、統合された設計と製造クロージャのサポートによりTSMCリファレンス・フロー11を拡張
(2010年06月22日)
2010年01月
フリースケール、メンター・グラフィックスとの コラボレーションを通じてTessentシリコンテストおよび 歩留まり解析、Calibre物理検証およびDFMを活用
(2010年01月18日)
プレスリリース・アーカイブ
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