2011年09月20日

メンター・グラフィックス・コーポレーション（本社: 米国オレゴン州、以下メンター・グラフィックス）は、軍事、医療、自動車などの品質が重視されるアプリケーションにおいて、より高い故障カバレッジとより低レベルのDPM（Defect Per Million）を実現するTessent® TestKompress®およびTessent FastScan™の新機能を発表しました。ユーザ定義故障モデル（UDFM）と最新のセル対応ATPGフローにより、標準のstuck-atモデルや遷移故障モデルでは十分に検出されない標準セル内の微細なショート欠陥やオープン欠陥をターゲットとすることができます。

「UDFMに基づくセル対応テストにより、従来の故障モデルでは検出されなかった欠陥を捕捉して、製造テストの品質を高めることができます。従来の故障モデルでは、標準セルの周囲とセル間のインターコネクトは確実にテストされますが、セル内部のブリッジ欠陥やオープン欠陥が見落とされる場合があります。TestKompressでは、UDFMとセル対応機能を使用して、特にこれらの欠陥をターゲットとしたパターンを生成できるため、テスト時間への影響を最小限に抑えながら、より高い確信を持って生産テストを実施できます。これにより、真のゼロ欠陥品質管理に大きく一歩近づきました。」AMD、Senior Fellow、Jeff Rearick氏は、上記のように述べています。

セル対応故障モデルは、1回のセルライブラリのキャラクタライゼーション・フローを使用して生成されます。このフローでは、トランジスタレベルの故障シミュレーションにメンター・グラフィックスのCalibre®寄生抽出ツールとEldo®を使用します。キャラクタライゼーションが実行されると、新しいUDFMシンタックスを使用して、セル内部の故障モデルが自動的にTestKompressパターン生成に組み込まれます。セルライブラリ・キャラクタライゼーションは、メンター・グラフィックスのコンサルティング・サービスとしても利用できます。さらに、顧客は、UDFM機能を使用して、特定のプロセスやアプリケーションの品質レベルの改善に必要な独自の故障モデルを定義できます。

「より先端のプロセス・ノードに移行するにつれ、ICテストによって解決しなければばらないさまざまな新しい故障モードが出現してきます。UDFMを使用すれば、顧客は、商用の故障モデル・ライブラリが対応するまで待つことなく、これらの新しい故障に対処できます。メンター・グラフィックスは、最高のテスト品質を維持しながら、テスト開発の労力、さらに重要なテストの生産コストを削減するために、新たなテクノロジで自動ICテストの限界に挑み続けていきます。」メンター・グラフィックス、Product Marketing Director、Steve Paterasは、上記のように述べています。

メンター･グラフィックスについて
メンター・グラフィックスは、EDA（Electronic Design Automation）のテクノロジ・リーダーとして、高性能な電子機器を短期間でよりコスト効率よく開発するためのハードウェアおよびソフトウェアのソリューションを提供しています。ますます複雑化する基板およびチップ設計の世界でエンジニアが直面する様々な設計上の課題を克服するための革新的な製品およびソリューションを提供します。メンター・グラフィックスは業界で最も幅広いクラス最高の製品ポートフォリオを有し、EDAベンダとして唯一組込みソフトウェア・ソリューションを持っている企業です。メンター・グラフィックスについての詳しい情報はhttp://www.mentorg.co.jpをご覧ください。

Mentor GraphicsはMentor Graphics Corporationの登録商標です。その他記載されている製品名および会社名は各社の商標または登録商標です。

シリコンテストおよび歩留まり解析について

• http://www.mentorg.co.jp/products/silicon-yield/index.html

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メンター・グラフィックス・ジャパン株式会社
マーケティング部
エリソン　有理
E-mail: yuri_ellison@mentor.com