Tessent FastScan

Tessent FastScanは、高カバレッジでコンパクトなテストセットを簡単に生成します。ほぼすべての種類のデザインに適用できる業界で最も汎用性の高いATPGソリューションです。テスト品質を高めるには、包括的な実動作速度テストが欠かせません。Tessent FastScanのat-speedテストには、遷移、n回検出遷移、タイミング解析、クリティカルパスなどが含まれます。

特長と利点

  • 縮退、IDDQ、遷移、パス遅延、ブリッジなど、幅広い故障モデルをサポート
  • オンチップPLLをサポートし、高精度なat-speedテストが可能
  • フルスキャンおよび構造化したパーシャルスキャンのデザインに対応した最高性能のATPG
  • 分散型ATPGにより、カバレッジやパターン数はそのままで実行時間を短縮
  • フォルスおよびマルチサイクルをサポートし、不定値Xの影響を最小限に抑えて高カバレッジを実現
  • 包括的な設計ルールチェックにより、テスタビリティの問題を早期に発見
  • GUIによるシミュレーション不一致の自動デバッグ機能により、テストのバリデーション時間を短縮

Tessent FastScan MacroTest オプション

小規模な組み込みメモリやコアに対するテストパターンをチップレベルでのスキャンテストパターンに変換

過去の受賞歴

Best-in-Test: Test & Measurement  WorldBest-in-Test

Test & Measurement World, 1993

Best-in-Test: Test & Measurement  WorldBest-in-Test Honorable Mention

Test & Measurement World, 2004

Tessent Training

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