Tessent PLLTest

Tessent PLLTestは、PLL、DLL、クロック信号に対応した完成度の高いパラメトリック組み込みテストを提供します。ジッタ、位相遅延、デューティサイクル、周波数比、ロック時間、およびロック範囲といったパラメータを、IEEE 1149.1 TAPインタフェースを介して、テストのセットアップから限界テストのためのオンチップ比較まで含めて、すべて100ms未満で測定できます。

 

Tessent PLLTestは、メンター・グラフィックスの特許技術であるULTRA(Unlimited Time-Resolution Analysis)テクノロジを採用しています。4kゲートのULTRAモジュール1つでPLLをいくつでもテストでき、1つのTAPコントローラ(またはIEEE 1500 WTAP)で任意の数のULTRAモジュールに接続できます。

特長と利点

  • ピコ秒単位の精度によるジッタの測定: ヒストグラムまたはRMS、タイミングジッタ(ループ帯域幅に依存)、周期ジッタ(VCOノイズに依存)
  • ピコ秒単位の精度による位相ノイズおよびデューティサイクルの測定: 任意の同期出力周波数で任意の数の出力
  • ロック時間の測定: 1クロックサイクル精度で任意の周波数偏差
  • 設計とテストの自動化: RTL挿入とテストベンチ生成、キャラクタライゼーション、量産テスト、再現性解析

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