Tessent SiliconInsight

Tessent SiliconInsightでは、Tessent BIST機能を組み込んだデバイスをインタラクティブにテストすることにより、テストブリングアップ、デバッグ、シリコンキャラクタライゼーションを自動化できます。

 

これにより、シリコン検証とデバッグ段階におけるチップ設計者とテストエンジニアの生産性が飛躍的に向上し、Time-to-Marketの短縮を図ることができます。Tessent SiliconInsightは、ベンチトップ環境に対応したインタラクティブなデバッグおよびキャラクタライゼーション機能により、テストおよびシリコンのブリングアップ時間を短縮します。

特長と利点

  • クリティカルなシリコン検証およびデバッグ段階における生産性を向上
  • テストスケジュールの影響を評価
  • ベンチトップ環境で低コスト、ハイアベイラビリティのキャラクタライゼーションを実現
  • BISTテスト済みのメモリ、ロジック、PLL、SerDesの制御、デバッグ、キャラクタライゼーションをインタラクティブに実行
  • デバイス内のBISTテスト済みブロックを自由に選んで任意の順序でテストを実行し、データを収集可能
  • 1149.1準拠の標準インタフェースによるベンチトップのサポート。GPIBによる電力とクロックのシュムー機能

関連製品

Tessent MemoryBISTは、組み込みメモリのat-speedテスト、診断、修復に対応した包括的なソリューションです。このソリューションは、階層型アーキテクチャを採用しており、BISTおよび自己修復機能をトップレベルだけでなく各コアにも追加可能です。製品概要を表示

Tessent LogicBISTは、ICのデジタルロジック部をテストするための業界最先端のBISTソリューションです。特に、ナノメータSoC設計をテストするコストの削減とTime-to-Marketの短縮、そして最大限のテスト品質を実現するためのユニークな機能が用意されています。製品概要を表示

Tessent IJTAGはIEEE 1687を具現化するはじめての製品です。単にIEEE 1687の規定をツールとして具体化するだけではなく、規格で定義されている以上の、自動化をはじめとした、各種機能を備えています。製品概要を表示

製品情報リクエスト