Tessent TestKompress

Tessent TestKompressは、量産テストのコストを最小限に抑えつつ、最高品質のデターミニスティックスキャンテストを実現します。このソリューションでは、特許取得済みのオンチップ圧縮技術によってスキャンパターンが生成されるため、テストデータの量が飛躍的に削減され、ATE(自動テスト装置)でのテスト時間も短縮されます。

 

ハイライト

  • スキャンテストパターンによるデジタルロジックの完全なテスト
  • 高性能 ATPG アルゴリズムと分散処理による高速パターン生成
  • 縮退、遷移、パス遅延、n回検出など幅広い故障モデルをサポートし、微細ジオメトリテクノロジにも適用可能な完全なテストプログラムの作成が可能
  • レイアウトに依りセル内で発生するトランジスタレベルの欠陥に的を絞るセルアウェアテスト手法の一部
  • 少ピン数テストストラテジ(最小1スキャンチャネル)をサポート
  • Tessent Diagnosis および Tessent YieldInsightによる故障ファイルの解析

過去の受賞歴

Product of the Year: Electronic Product2001. Product of the Year: Electronic Product

 

Best-in-Test: Test & Measurement  World2002. Best-in-Test: Test & Measurement World

 

Donald O. Pederson Award – IEEE2006. Donald O. Pederson Award – IEEE

 

Best-in-Test: Test & Measurement  World2008. Best-in-Test Honorable Mention: Test & Measurement World

 

Test-of-Time: Test & Measurement World2009. Test-of-Time: Test & Measurement World

Best-in-Test: Test & Measurement  World2013. Best in Test Winner: Tessent TestKompress with Cell-Aware ATPG

 

Best-of-West2013. Best of West Winner: Tessent TestKompress with Cell-Aware ATPG

 

ijtag2013. IJTAG Winner: IC Design Tools

 

ijtag2013. IJTAG Finalist: Golden Mousetrap Awards

 

elektra2013. Elektra Winner: Tessent TestKompress with Cell-Aware Technology

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