Tessent Diagnosisは、正確で高分解能のテスト故障診断を実行し、各故障について最も可能性の高い不良メカニズム、およびその論理位置、物理位置を特定します。

このツールは、製造テストから得た故障データ、スキャン・テストパターン、設計情報を利用し、不良の原因となっている欠陥の位置を特定、分類します。製造テストで不良と判定されたデバイスを詳細に解析することにより、不良解析の労力が大幅に軽減されることが実証されており、診断ドリブン歩留まり解析フローを実現します。