Tessent SiliconInsight
Tessent SiliconInsightでは、Tessent BISTの機能を組み込んだデバイスをインタラクティブにテストすることにより、テスト・ブリングアップ、デバッグ、シリコン・キャラクタライゼーションを自動化できます。
これにより、シリコン検証とデバッグ段階におけるチップ設計者とテスト・エンジニアの生産性が飛躍的に向上し、Time-to-Marketの短縮を図ることができます。Tessent SiliconInsightは、ベンチトップおよびATEに対応したインタラクティブなデバッグおよびキャラクタライゼーション機能により、テストおよびシリコンのブリングアップ時間を短縮します。
特長と利点
- ファーストシリコン検証およびデバッグ段階における生産性を向上
- テスト・スケジュールの影響を評価
- ベンチトップ環境で低コスト、ハイ･アベイラビリティのキャラクタライゼーションを実現
- ベンチトップとATEデバッグで共通の環境を利用可能
- BISTテスト済みのメモリ、ロジック、PLL、SerDesの制御、デバッグ、キャラクタライゼーションをインタラクティブに実行
- デバイス内のBISTテスト済みブロックを自由に選んで任意の順序でテストを実行し、データを収集可能
- Teradyne、Advantest、Verigy、LTX-Credence、横河電機各社のテスト・システム上で実行可能
- 1149.1準拠の標準インタフェースによるベンチトップのサポート。GPIBによる電力とクロックのシュムー機能
バージョン・ラインアップ
- メモリ、ロジック、ミックスシグナル向け: Tessent SiliconInsight Desktop
- メモリ、ロジック、ミックスシグナル向け: Tessent SiliconInsight ATE
技術概要
Desktopバージョンを使ってインタラクティブ形式のシリコン・デバッグおよびキャラクタライゼーションを実行する方法を紹介します。
Tessent SiliconInsight Desktopによるインタラクティブな診断技術概要