Tessent YieldInsight
歩留まり低下の根本原因を突き止めるまでのサイクルタイムを
劇的に短縮
Tessent YieldInsightは、Tessent Diagnosisによる故障診断データを統計的に解析し、故障解析の前の段階でシステマティックな歩留まり制約要因を特定して問題を切り分けます。
これにより、物理的な故障箇所の特定にかかるコストが削減され、これまで数週間かかっていた歩留まり低下の原因特定が数日で完了します。システマティックな欠陥の存在が明らかとなったダイは、自動的に識別されるため、物理解析時のダイ選別も容易に行えます。この結果、従来の手法に比べ短期間で歩留まり向上を達成できます。
特長と利点
- 歩留まり低下の根本的原因を突き止めるまでのサイクルタイムを大幅に短縮
- 隠れた歩留まり低下要因を自動的に発見
- テストおよび診断の結果の可視化により、歩留まり問題を視覚的に特定
- 解析対象のデバイス選別を改善し、物理解析の成功率を最大化
- 歩留まり改善対策に優先順位付けを支援
- 8 種類のゾーニングに対する統計解析に基づき、システマティックな欠陥の存在をダッシュボードに表示
- 50以上の診断シグネチャをパレート図化し、解析
マルチメディア
Tessent YieldInsight
製品デモ先端テクノロジ・ノードでは、従来の歩留まり解析手法では発見が困難な、「隠れた」システマティックな欠陥が見られるようになっています。これらのシステマティックな欠陥を特定できないと、歩留まりが思うように向上せず、チップ品質や信頼性の問題を見逃してしまう恐れもあります。このプレゼンテーションでは、より強力な歩留まり解析を可能にし、隠れたシステマティック欠陥の発見を支援するTessent YieldInsightについて紹介します。 ビデオを表示
Tessent DiagnosisとTessent YieldInsightによる歩留まり改善
技術概要従来の手法では、歩留まり低下の根本的原因を突き止めるのに数週間〜数カ月が必要でした。Tessent歩留まり解析ソリューションを利用すると、この期間を大幅に短縮することが可能です。 ビデオを表示
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