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Winter

• [Feature Story | シリコンテストおよび歩留まり解析]
  診断ドリブンの歩留まり解析で原因をより早期に特定するTessentファミリ
  
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65nm以下の先端テクノロジ・ノードで開発されているICは、わずかな製造ばらつきがICの性能低下や故障を招く原因になります。さらに、設計に固有なフィーチャーに影響される新しい欠陥メカニズムが生まれています。製造プロセスと、ばらつきに対してより敏感になったレイアウト・フィーチャー間の複雑な関係により、システマティックな不良に起因する歩留まり低下問題が顕在化しています。歩留まり解析手法を強化しなければ、量産までの期間は長期化し、成熟歩留まりも満足のいくものとならず、製品品質にも影響が出る可能性があり、結果としてメーカーの収益性が脅かされます。診断ドリブンの歩留まり解析とは、出荷テスト結果、ボリューム診断の結果を統計的に解析して、物理解析を行う以前に歩留まり低下の根本原因を特定する手法です。この手法により、原因特定までのサイクルを、従来比較で75～90%短縮することができます。本稿では、Tessent™ DiagnosisならびにTessent YieldInsight™を使った診断ドリブンの歩留まり解析フローの導入メリットを紹介します。

• [Success Story | ESL設計]
  株式会社日立製作所 通信ネットワーク事業部、Catapult C Synthesisを複雑なフォワード・エラー・コレクション（FEC）設計に適用
  
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株式会社日立製作所 通信ネットワーク事業部は、データ転送における信頼性の向上や通信距離の増大といった次世代通信システムに求められる要求に応えるため、FEC（Forward Error Correction）回路の開発を計画しました。

• [SupportNet Information]
  Mentor Graphics Communities もうひとつの顔 - メンター・グラフィックス社員による情報発信 -
  
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EDA総合コミュニティ『Mentor Graphics Communities』に日本語ゾーンがオープンして以来、実に多くの方にご来訪いただいています。コミュニティへの参加者はユーザや一般の方々だけではないことをご存知でしょうか？ 実は、メンター･グラフィックスの社員もコミュニティの一員なのです。このたび、社員による情報発信の場を2つ立ち上げました。今後このような情報を増やしていく予定ですので、引き続きよろしくお願いします。